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PRODUCTS
Solutions for Spectroscopy, TCSPC & Imaging
proXAS X-Ray Spectrometer
Table-top NEXAFS system
Table-top "X-ray Absorption Spectroscopy systems" for EXAFS & NEXAFS.
- 랩용 NEXAFS measurement 장비
- 연구실에서도 성분 분석을 위한 fingerprinting 가능
- laser-based XUV source & customized spectrometer(1900 resolving power)
- 넓은 energy range(200-1200eV)로 K-edge( C, N, O, Ca, K, Ti.)에서 측정 가능
Catalog
Specification
| Source | debris-free laser-produced plasma XUV source |
| Energy range | 200-1200eV / 1-6nm |
| Repetition rate | 25Hz |
| Source power stability | ±1.5% |
| Spectrometer | aberration-corrected flat-field spectrometer |
| Resolving power | 1900 |
| Sample mount | turret mount for multiple samples |
| Footprint | 1.5m x 1.0m |
| Software suite | integrated system control, variety of spectra calibration and analysis functions |
Application
- Surface science
- Chemical state analysis in geochemistry
- Electronic structure and oxidation state analysis
제품정보
ProXAS는 NEXAFS 측정값을 실험실에서 제공하는 최초의 시스템입니다. 빠르고 정확한 결과를 얻을 수 있어 소자 분석을 위한 Fingerprinting이 이제 실험실 내에서도 가능합니다.
신뢰성이 높은 레이저 기반 XUV 소스와 1900의 매우 높은 분해능을 가진 맞춤형 분광기를 결합합니다. 에너지 범위 200-1200eV는 C, N, O, Ca, K, Ti와 같은 요소의 K-edge에서 측정할 수 있습니다.
proXAS는 사용자 맞춤형도 가능합니다. 더 높은 에너지를 위한 솔루션인 hiXAS도 있습니다.
